PLM-F系列电子分析/精密天平，采用高精度电磁力传感器技术，下置式结构。 整机外观新颖、坚固，称重示值反应快，稳定性好，良好的视觉效果结合超大容积的操作空间，满足广泛实验室的精密称重要求。
| 型号 | 最大量程(g) | 可读性(g) | 重复性（g） | 线性误差(g) | 操作温度(℃) | 秤盘尺寸(mm) | 外形尺寸(mm) | 稳定时间 |
| PLM-F2102 | 2100 | 0.01 | ±0.02 | ±0.02 | 5-35 | Φ160 | 325*205*110 | ≤3s |
| PLM-F3102 | 3100 | 0.01 | ±0.02 | ±0.02 | 5-35 | Φ160 | 325*205*110 | ≤3s |
| PLM-F4102 | 4100 | 0.01 | ±0.02 | ±0.02 | 5-35 | Φ160 | 325*205*110 | ≤3s |
| PLM-F5102 | 5100 | 0.01 | ±0.02 | ±0.02 | 5-35 | Φ160 | 325*205*110 | ≤3s |
| PLM-F6102 | 6100 | 0.01 | ±0.02 | ±0.02 | 5-35 | Φ160 | 325*205*110 | ≤3s |
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